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1Digital revistaSCIELO
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2Transmission Electron Microscopy (TEM) Through Focused ION Beam (FIB) from Vitrified Chromium Wastespor Ballesteros-Elizondo,S, Parga-Torres,J. R., Rincón-López,J. Ma., Palacios-González,E
Publicado em 2011Digital revistaSCIELO -
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4por Ponce-Reyes,C.E., Chanona-Pérez,J.J., Garibay-Febles,V., Palacios-González,E., Karamath,J., Terrés-Rojas,E., Calderón-Domínguez,G.
Publicado em 2014Digital revistaSCIELO -
5por Mendoza-Madrigal,A.G., Chanona-Pérez,J.J., Hernández-Sánchez,H., Palacios-González,E., Calderón-Domínguez,G., Méndez-Méndez,J. V., Blasco,J., Villa-Vargas,L.A.
Publicado em 2013Digital revistaSCIELO