Acomodação familiar e criticismo percebido em pacientes com transtorno obsessivo-compulsivo

OBJETIVO: O transtorno obsessivo-compulsivo (TOC) causa importante impacto sobre a dinâmica familiar. Frequentemente, ocorrem modificações na rotina da família, a qual acaba se adaptando aos sintomas e às exigências do paciente, fenômeno denominado acomodação familiar. Portadores de TOC podem sentir-se, ainda, alvo de críticas por parte de pessoas de seu convívio. Alguns estudos associam pior prognóstico a maiores Índices de Acomodação Familiar e criticismo percebido. Este artigo tem como objetivo verificar possíveis associações entre tipos de sintomas predominantes (dimensões) determinados pela escala DYBOCS, em relação ao funcionamento familiar e percepção crítica dos pacientes. MÉTODO: Quarenta e nove pacientes e seus familiares foram avaliados por meio da aplicação de escalas para medição dos índices de criticismo percebido (Perceived Criticism Scale) e acomodação familiar (Family Accommodation Scale), além de escalas para medir a intensidade dos sintomas obsessivo-compulsivos (Dimensional Yale-Brown Obsessive-Compulsive Scale, Yale-Brown Obsessive-Compulsive Scale), depressivos e ansiosos (Hamilton and Beck depression and anxiety inventories). Compararam-se os resultados aos índices obtidos pela DYBOCS e a outras variáveis clínicas relacionadas ao TOC. RESULTADOS: Encontraram-se correlações estatísticas entre gravidade das dimensões agressividade e contaminação, com maior acomodação familiar. Foi verificado também maior criticismo por parte dos pacientes portadores de colecionismo. CONCLUSÃO: Diferentes subtipos de TOC exercem diferentes padrões de influência no contexto familiar. Mais estudos com esse enfoque são necessários para melhor orientação comportamental a pacientes e familiares.

Bibliographic Details

Main Authors:	Ferrão,Ygor Arzeno, Florão,Marcelo dos Santos
Format:	Digital revista
Language:	Portuguese
Published:	Instituto de Psiquiatria da Universidade Federal do Rio de Janeiro 2010
Online Access:	http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0047-20852010000100006
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