Automatización de un microscopio de barrido por efecto túnel utilizando una tarjeta OMB-DaqBoard/2000 y LabVIEW
El artículo muestra el trabajo para la automatización y control de un microscopio de barrido por efecto túnel (STM) construido por los autores. La interfase entre la computadora y el microscopio ha sido implementada por medio de una tarjeta de adquisicion de datos OMB-DaqBoard/2000. Un programa desarrollado en LabVIEW genera las seriales requeridas para el barrido X-Y, y simultáneamente adquiere los voltajes de Z relacionados con la corriente de tunel entre la punta y la muestra. El programa construye la imagen de microscopia de la superficie estudiada a partir de los voltajes Z. El proceso para la calibration del instrumento utilice) imágenes de resolución atómica de superficies conocidas.
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| Main Authors: | , , , |
|---|---|
| Format: | Digital revista |
| Language: | Spanish / Castilian |
| Published: |
Sociedad Mexicana de Física
2016
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| Online Access: | http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2016000100011 |
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