Estudo de polímeros por microscopia de força atômica.
A microscopia de varredura de força (MVF SFM "scanning force microscopy") também conhecida como microscopia de força atômica (MFA AFM "atomic force microscopy") tem sido utilizada largamente no estudo de polímeros (Jandt (1998), Schneider & Herrmann (2001) e Hodges (2002)), devido a sua capacidade de fornecer informações que não eram passíveis de se obter com o uso da microscopia eletrônica de varredura. Por conseguir obter imagens de superfície de materiais sob as mais variadas condições (ar, vácuo e em meio líquido) se tornou um dos equipamentos mais completos para estudo de materiais em micro e nano escalas. Apresenta várias vantagens em relação às microscopias eletrônica (ME) de varredura e eletrônica de transmissão, para estudo de polímeros, entre elas: dispensar o uso de vácuo ou de recobrimento da amostra, a possibilidade de se realizar medidas diretas de altura e rugosidade, além de, para estruturas ordenadas, poder obter imagens com resolução atômica. As imagens obtidas com os diferentes tipos de AFM são relacionadas com a natureza das forças envolvidas: repulsão coulômbica (AFM -modo contato), força de van der Waals (AFM modo não contato e contato intermitente) (Meyer, 1992), força magnética (MFM), força elétrica (MFE), força de atrito entre outras (Jandt, 1998).
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Separatas biblioteca |
| Language: | pt_BR por |
| Published: |
2003
|
| Subjects: | Microscopia de Força Atômica, nível microscópico e atômico, AFM, Imagens, Análise, |
| Online Access: | http://www.infoteca.cnptia.embrapa.br/infoteca/handle/doc/28614 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|